基于多级特征区域配准的电子载带盒子缺陷光学检测方法

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基于多级特征区域配准的电子载带盒子缺陷光学检测方法
申请号:CN202510854044
申请日期:2025-06-24
公开号:CN120876366A
公开日期:2025-10-31
类型:发明专利
摘要
本发明公开了基于多级特征区域配准的电子载带盒子缺陷光学检测方法,包括以下步骤:构建基准参考区域;构建特征采样区域;生成动态配准区域;动态配准区域与基准参考区域的差分运算。本发明通过多级特征区域动态配准机制,自适应消除载带因材料形变、冲压震动导致的局部位置偏差,提升差分运算的像素级对齐精度。本发明采用区域向量化+矩阵批处理降低时间复杂度,提高处理速度,能够满足高速产线的检测需求。同时本发明还能兼容多种材质的电子载带和多种异形的盒子结构。所以本发明对降低电子载带盒子处缺陷检测工作强度、保障高速冲压复杂场景中质量控制、提高缺陷检测效率及准确性具有重大实际工程应用价值。
技术关键词
缺陷光学检测 电子载带 多级特征 基准 坐标系 动态 生成二值化图像 拟合算法 矩阵 处理器 边缘检测算法 像素点 一致性算法 拟合轮廓 盒子结构 圆心 缺陷轮廓