生成方法、测试方法、生成器、电子设备和介质

本公开的实施例涉及一种测试用例生成方法、测试方法、测试用例生成器、电子设备和介质。该测试用例生成方法，包括：获取被测设计的统一结构模型，其中，所述统一结构模型包括至少一个待配置参数；获取所述至少一个待配置参数的参数配置信息；以及基于所述参数配置信息和所述统一结构模型，生成所述测试用例，以利用所述测试用例对所述被测设计进行测试。该方法能够提高测试用例生成的效率，提高芯片验证的完备性和效率。