一种测试方法、装置、电子设备及存储介质

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一种测试方法、装置、电子设备及存储介质
申请号:CN202510857182
申请日期:2025-06-25
公开号:CN120429238B
公开日期:2025-10-21
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种测试方法、装置、电子设备及存储介质,涉及固件更新技术领域,分析待测试固件的改动代码模块,追踪关联的影响代码模块及影响因子,客观量化地确定改动波及的范围,替代人工主观判断;根据影响因子和预设规则生成测试用例集合,确保测试聚焦于受影响的区域,提升测试的针对性和精度;在预配置的测试环境中执行测试用例集合,测试环境部署可自动化。本申请减少了测试人员的手动干预需求无需花费大量精力人工筛选用例,解决了依赖人工选择测试用例导致的精度低和自动化缺失的技术问题,达到了测试过程更高效、更准确的技术效果。
技术关键词
因子 缺陷预测 测试方法 训练机器学习模型 固件缺陷 固件更新技术 分析待测试 执行测试用例 生成测试用例 电子设备 可读存储介质 存储计算机程序 复杂度 算法 依赖人工 测试模块 数据