一种基于工业视觉的针对数模混合芯片测试分选一体机

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一种基于工业视觉的针对数模混合芯片测试分选一体机
申请号:CN202510858533
申请日期:2025-06-25
公开号:CN120679746A
公开日期:2025-09-23
类型:发明专利
摘要
本发明涉及芯片测试技术领域,且公开了一种基于工业视觉的针对数模混合芯片测试分选一体机,包括柜体,柜体的内壁转动连接有开合门,柜体的内壁固定连接有支撑台,柜体的内壁固定连接有面阵相机,本发明使中空压板能够对数模混合芯片进行初步固定,能够提高数模混合芯片测试稳定性与数据精准度,同时面阵相机能够对芯片表面进行测量,能够确保成像姿态的一致,避免视角的偏差,能够提高数模混合芯片的测量精度,消除芯片位置偏移的影响,能够避免因位置偏差导致的测量误差,能够将数模混合芯片进行初步的定位,提高该装置在对数模混合芯片的测量效率,提高分选的效率。
技术关键词
数模混合芯片 分选一体机 圆周面 支撑台 面阵相机 分选机构 往复丝杆 视觉 工业 防护机构 铰接板 阻挡板 柜体 芯片测试技术 移动块 缓冲板 限位柱 推板 槽板 收集盒