一种导体缺陷实时检测方法及系统

本申请涉及导体缺陷检测技术领域，具体提供了一种导体表面缺陷实时检测方法及系统，该方法包括步骤：根据光学波长为预设波长的光学图像的光学特征获取绝缘层透明度信息，然后根据绝缘层透明度信息确定区域识别算法的参数和第一缺陷检测算法的参数；利用区域识别算法对光学波长位于预设波段内的光学图像进行表面打印标记识别，以得到表面打印标识区域；对所有光学图像中除表面打印标识区域外的区域进行特征提取，以得到反映不同层面信息的第一特征图；利用第一缺陷检测算法对第一特征图进行缺陷识别，然后根据同一表面缺陷在不同光学图像中的特征差异确定该表面缺陷所在的位置；该方法能够有效地提高缺陷检测的准确性、可靠性和鲁棒性。