一种集成电路的检测系统、方法、电子设备及存储介质

本申请公开了一种集成电路的检测系统、方法、电子设备及存储介质。所述检测系统包括信号发生模块，用于向待测电路提供激励电流；磁场探测模块，用于接收所述待测电路在激励电流的刺激下产生的垂直磁场分量，并将其转化为电压信号；信号提取模块，用于从接收磁场探测模块输出的电压信号，并从所述电压信号中提取与激励电流同频的目标电压信号；数据处理模块，用于基于所述目标电压信号重建所述待测电路的电流分布图像；故障分析模块，用于对所述电流分布图像进行分析，确定待测电路的检测结果，所述检测结果包括异常情况和异常区域。可以通过无损方式对待测电路进行磁场成像，识别被测电路的异常问题。