测试方法、测试装置、芯片和电子设备

本申请涉及测试技术领域，特别涉及一种测试方法、测试装置、芯片和电子设备。该测试方法包括：获取初始测试项信息和测试工位信息，其中，初始测试项信息包括多个测试项以及多个测试项分别对应的测试时长，测试工位信息包括测试工位的数量；确定多个测试项中的第一测试项；基于初始测试项信息、第一测试项和测试工位信息，确定多个测试工位分别对应的目标测试项信息，目标测试项信息包括多个测试项分别对应的执行时间信息，多个测试工位中的任意两个测试工位对应的第一测试项的第一执行时间信息中的执行时间段不存在重合时间段。该方法可以提高了芯片测试结果的精确性。