一种基于多算法的MBIST测试系统

本申请涉及芯片测试技术领域，特别是涉及一种基于多算法的MBIST测试系统，该系统在采用高阶算法且需要基础算法进行基础快速测试的场景中，将高阶算法和基础算法中相同的算法指令复用，仅需要配置目标算法标识，即可初始化参考指令标识，以及确定算法指令执行完毕后所要跳转的算法指令，从而无需在已有高阶算法指令序列的基础上添加额外增加整个基础算法的指令序列，而且无需增加大量的选择器以实现多算法之间的选择功能，从而有效减少了测试电路的面积开销，降低了芯片生产成本。