一种芯片检测装置和方法

本申请实施例提供了一种芯片检测装置和方法，装置包括，芯片测试座；测试模块对芯片进行硬件测试得到结果，确定硬件测试是否通过；串行调试模块，在硬件测试通过后对芯片进行串行调试协议连接测试，再次通过后，提取芯片的原始固件程序并保存，捕获芯片的寄存器状态，对芯片进行烧录测试，得到结果用于确定烧录测试是否通过；通信模块，将硬件测试结果和烧录测试结果传输至上位机，使上位机在硬件测试不通过时，根据硬件测试结果进行故障分析；以及在烧录测试不通过时，根据硬件测试结果和烧录测试结果进行故障分析。精简了分阶段使用不同设备的检测步骤，通过更换芯片测试座，支持不同型号的芯片，增加了装置的适配性，使检测效率显著提高。