一种MIPI PHY电路测试系统及其测试方法

本发明公开了一种MIPI PHY电路测试系统及其测试方法，测试信号产生模块在上位机的控制下向MIPI PHY电路电路输出差分信号，即输出LP_P信号、LP_N信号，或HSSL_P信号和HSSL_N信号；MIPI PHY电路接收差分信号进行回环测试，并向数字逻辑判断和处理电路输出DATA信号、LP_RX_OUT_N信号、LP_RX_OUT_P信号；数字逻辑判断和处理电路向MIPI PHY电路电路反馈HS_RX_EN信号、LP_TX_OUT_N信号、LP_TX_OUT_P信号，同时还进行逻辑判断和处理输出标志位，及控制测试信号产生模块重新输出差分信号，实现芯片内部MIPI PHY信号自动回环测试。