一种超声波扫描用上下料系统

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一种超声波扫描用上下料系统
申请号:CN202510869644
申请日期:2025-06-26
公开号:CN120423299B
公开日期:2025-09-02
类型:发明专利
摘要
本申请涉及超声波探伤的技术领域,尤其是涉及一种超声波扫描用上下料系统,包括支架,支架上设有抓取爪和翻转爪,支架上设有横向平移机构,横向平移机构上设有纵向平移机构,纵向平移机构上设有升降机构,抓取爪设于升降机构上,抓取爪包括与升降机构相连的抓取基座,抓取基座上竖直转动连接有抓取基板,抓取基板的下表面滑动连接有两个正对的夹持爪;支架上固定有翻转座,翻转爪包括水平转动连接于翻转座上的翻转基板,翻转基板上水平滑动连接有两个正对的翻转夹爪。抓取爪和翻转爪相互配合实现对芯片模块的翻转和转移输送,使用方便。
技术关键词
超声波扫描 夹持爪 纵向平移机构 横向平移机构 翻转基板 抓取爪 升降机构 缓冲块 夹持块 锁紧槽 滑动块 控制杆 超声波探伤 支架 齿轮 芯片模块 基座 传动齿条