一种光学在机测量装置的标定方法及系统

AITNT-国内领先的一站式人工智能新闻资讯网站
# 热门搜索 #
一种光学在机测量装置的标定方法及系统
申请号:CN202510871296
申请日期:2025-06-26
公开号:CN120627892A
公开日期:2025-09-12
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种光学在机测量装置的标定方法及系统,解决了现有技术中测距传感器检测精度较低的问题,具有保证测量结果的准确度和精度,提升测距传感器标定的操作效率的有益效果,具体方案如下:一种光学在机测量装置的标定方法,包括将光学在机测量装置的测距传感器安装于机床的主轴,测距传感器相对于机床的主轴可转动,将标准球安装于工作台;测距传感器向标准球表面发射光束,光束的起点作为发射点,光束在标准球表面的点为采样点,根据测量圆模型和拟合圆模型的偏差确定偏差变化规律;根据偏差变化规律,基于随机森林算法建立微小倾角识别模型;根据测距传感器偏差角度与偏差变化值之间的关系获得测距传感器的偏差角度。
技术关键词
测距传感器 标定方法 偏差 光束 采样点 安装部件 理论 数学模型 随机森林 坐标系 机床 标定系统 轨迹 回归树算法 基准面 工件 工作台 关系 波动特征