一种基于子像素模板匹配的缺陷分类与检测的方法

本发明公开了一种基于子像素模板匹配的缺陷分类与检测的方法，包括以下步骤：采用频域滤波与动态补偿技术消除渐晕效应，构建均匀化图像基底；通过基于内嵌模板的形状特征模型实现亚像素级定位；通过行列间距分析与均分插值算法实现缺失子像素的智能补全；通过模板与缺陷区域的形态学处理、子像素点的映射与区域交并操作，计算两区域的重合度，进而判断缺陷是否为子像素缺陷。