一种芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质
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一种芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质
申请号:
CN202510872979
申请日期:
2025-06-26
公开号:
CN120872703A
公开日期:
2025-10-31
类型:
发明专利
摘要
本发明实施例公开一种芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质,能够降低芯片验证的调试难度。所述方法包括:获取芯片中待验证的目标模块的验证环境,所述验证环境包括至少一个验证组件,所述至少一个验证组件中的每个验证组件,用于对所述目标模块处理的每条指令进行一个指令执行阶段的验证操作,其中,每个所述指令执行阶段包括顺序执行的至少一个子阶段,每个所述验证组件包括至少一个验证实体,不同的所述子阶段的验证操作分别由不同的所述验证实体执行;基于所述验证环境对所述目标模块进行验证。本发明可用于芯片验证中。
技术关键词
芯片验证方法
芯片验证装置
实体
数据获取请求
可执行程序代码
队列
模块
数据处理方式
阶段
消息更新
电子设备
先进先出
指令
可读存储介质
电路板
存储器
处理器