一种材料表征图像分析系统及其分析方法

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一种材料表征图像分析系统及其分析方法
申请号:CN202510874326
申请日期:2025-06-26
公开号:CN120765585A
公开日期:2025-10-10
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种材料表征图像分析系统及其分析方法。材料表征图像分析系统及其分析方法,包括以下步骤:S1:通过扫描电镜获取材料的背散射电子图像、二次电子图像及能谱数据,并基于预设的材料类型和观测目标,采用参数优化算法动态调整扫描电镜的加速电压、束流及探测器增益;S2:对背散射电子图像和二次电子图像进行多尺度特征增强预处理,包括噪声抑制、非均匀照明校正及微区纹理强化;S3:将背散射电子图像与能谱元素分布图进行像素级空间配准,构建多模态融合特征矩阵。本发明提供的材料表征图像分析系统及其分析方法具有能够较好的解决失真问题、能够提高微结构识别准确率、能够降低寿命预测误差的优点。
技术关键词
背散射电子图像 图像分析系统 图像分析方法 参数优化算法 扫描电镜 三维可视化平台 非均匀照明 融合特征 多尺度特征 RANSAC算法 少量标注数据 双路径网络 噪声抑制 多模态 局部二值模式 混合滤波器 材料微结构 探测器