芯片测试方法、装置、设备及存储介质

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芯片测试方法、装置、设备及存储介质
申请号:CN202510875277
申请日期:2025-06-26
公开号:CN120723557A
公开日期:2025-09-30
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种芯片测试方法、装置、设备及存储介质,通过对并行测试项的资源配置信息进行配置合规检测,得到第一检测结果,并行测试项为测试过程中需并行执行的测试项,资源配置信息用于指示并行测试项的硬件资源配置情况;响应于第一检测结果指示资源配置合规,启动芯片测试,以及获取芯片测试过程中并行测试项的资源使用信息,资源使用信息用于指示并行测试项在测试过程中硬件资源的实时使用情况;对资源使用信息进行资源冲突检测,得到第二检测结果;响应于第二检测结果指示并行测试项使用的硬件资源未冲突,基于并行测试项进行芯片测试,可避免测试过程中硬件资源冲突,有助于提高测试效率。
技术关键词
资源配置信息 硬件资源冲突 板卡 芯片测试方法 资源冲突检测 硬件资源配置 通道 芯片测试模块 芯片测试装置 存储计算机程序 可读存储介质 存储器 处理器 电子设备