一种针对多版本DUT的验证系统

本申请涉及集成电路设计技术领域，特别涉及一种针对多版本DUT的验证系统，该系统对第一待测试设计和第二待测试设计中的待测试模块进行比较，得到第一比较结果，对第一测试路径和第二测试路径进行比较，得到第二比较结果，根据第一比较结果和第二比较结果确定第一待测试设计和第二待测试设计是否为不同版本的同一待测试设计，若是，则根据第一比较结果和第二比较结果确定目标代码，目标代码中存在共用部分和区分部分，使得目标代码可以同时支持第一待测试设计和第二待测试设计的验证，可见，仅需为不同版本的同一待测试设计构建一套验证环境，降低了验证环境构建的工作量和验证环境后续维护的复杂性，从而提高了多版本DUT的验证效率。