摘要
本申请属于微流控技术领域,具体涉及微流控芯片,包括第一基板、第二基板、导电结构和第三基板,导电结构包括导电层和多个形变单元,导电层设于形变单元远离第一基板或第二基板的一侧,并与第三基板相对且绝缘设置,第三基板设有检测区;检测光线能够自未设有第三基板侧的基板射入至微流控芯片,使形变单元朝向第三基板侧形变,待分析液滴能够对检测光线散射和吸收,使具有待分析液滴处的形变单元的形变程度小于未具有待分析液滴处的形变单元的形变程度,在未具有待分析液滴位置处,导电层与检测区接触,以向检测区传输电信号,从而检测待分析液滴位置。本申请实时检测待分析液滴所在位置,提高微流控芯片的可靠性,降低了微流控芯片生产成本。