一种芯片调试方法、装置、设备及可读存储介质

本说明书提供一种芯片调试方法、装置、设备及可读存储介质，该方法包括：一种芯片调试方法，其特征在于，应用于嵌入式芯片的第二处理单元，所述芯片还包括第一处理单元和控制单元，所述第二处理单元与所述第一处理单元共享所述嵌入式芯片的存储空间和串口访问权限，所述方法包括：在第二波特率下监听客户端；响应于监听到所述客户端发送的切换处理单元的请求，向所述控制单元下发控制权切换指令，以使所述控制单元将所述嵌入式芯片控制权切换至所述第二处理单元，协同所述控制单元切换与所述客户端通信使用的波特率为第一波特率；使用第一波特率与所述客户端建立交互。本方案为芯片异常调试提供了有效的现场调试手段，提高了芯片应用可靠性。