一种NAND Flash存储芯片的校验方法及系统

本发明涉及NAND Flash存储芯片的校验技术领域，具体公开一种NAND Flash存储芯片的校验方法及系统，包括：坏块扫描与标记、数据分片与分配、并行校验执行和校验频率自适应调整；本发明通过全片扫描检测并标记坏块，生成坏块分布图，根据坏块分布图动态调整分片大小并分配至不同校验通道，通过并行校验执行快速校验和深度校验，实时监控校验通道处理进度并采用负载均衡算法调整分配策略，同时根据存储单元物理特性动态调整校验频率。本发明能够全面准确检测坏块，合理分配校验资源，提高校验效率和数据可靠性，提高了系统的整体性能，适应不同工作环境和使用场景，具有广泛的应用前景。