一种细胞壁灰度、镂空度、厚度计算方法及系统
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一种细胞壁灰度、镂空度、厚度计算方法及系统
申请号:
CN202510947473
申请日期:
2025-07-10
公开号:
CN120451973B
公开日期:
2025-09-05
类型:
发明专利
摘要
本发明公开了一种细胞壁灰度、镂空度、厚度计算方法及系统,涉及计算机视觉技术与生物技术的交叉技术领域,包括基于显微镜下拍摄的真菌细胞图像进行预处理,采用半自动标注方式生成细胞壁位置标签;根据预处理图像搭建并训练目标分割模型,通过损失函数优化模型参数,分割并提取细胞壁轮廓;根据分割结果计算细胞壁灰度均值、镂空比和厚度,并通过数据增强和算法优化提升模型泛化能力。本发明所述方法能够精确分割出图像中的细胞壁,并准确计算出细胞壁相关参数,自动化程度高,大幅降低人工成本及时间成本。
技术关键词
厚度计算方法
损失函数优化
白色像素点
可视化评估方法
参数
图像分割
识别真菌
计算机视觉技术
读取标尺
标签
网络
距离图像
显微镜
验证算法
轮廓
分割算法