一种芯片内部信号传输阻抗匹配测试设备
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一种芯片内部信号传输阻抗匹配测试设备
申请号:
CN202510954150
申请日期:
2025-07-11
公开号:
CN120652263A
公开日期:
2025-09-16
类型:
发明专利
摘要
本发明涉及芯片测试技术领域,具体为一种芯片内部信号传输阻抗匹配测试设备,包括矢量网络分析模块和测试插座模块,所述测试插座模块的内部开设有惰性气腔和圆柱腔槽,所述惰性气腔和圆柱腔槽相互连通,惰性气腔的内部气体为惰性气体;本发明芯片内部信号传输阻抗匹配测试设备,在测试时主动控制探针部回缩,在芯片放置到位后,再控制探针部顶出建立测试连接,能够有效避免芯片的焊球触点与探针部发生硬性摩擦或碰撞。
技术关键词
插座模块
测试设备
矢量网络分析
探针
气压控制系统
PCB板
电磁铁模块
活塞
气压传感器
信号
芯片测试技术
连线
侧翼
包裹
套筒
射频电缆
限位凸环
金属板
伺服电机