固态硬盘质量测试方法、装置、设备及存储介质

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固态硬盘质量测试方法、装置、设备及存储介质
申请号:CN202510956531
申请日期:2025-07-11
公开号:CN120472973B
公开日期:2025-09-12
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种固态硬盘质量测试方法、装置、设备及存储介质,涉及计算机技术领域,包括获取温控设备的控制参数的当前运行值,轮询采集待测试的固态硬盘的实时温度,将控制参数的当前运行值和固态硬盘的实时温度输入至策略优化模型中,得到温控调节指令,根据温控调节指令,调节温控设备的输出温度,进而使得固态硬盘的温度维持在目标测试温度,完成质量测试,实现了全自动化的固态硬盘温度调节,解决了人工手动操作易造成测试过程中温度控制不精准,固态硬盘温度不均匀,导致最终测试结果准确性低的技术问题,达到了提高温度控制的精准度,提高固态硬盘的温度均匀性,从而提高质量测试结果的准确性的技术效果。
技术关键词
固态硬盘 策略优化模型 温控设备 测试方法 脚本 指令 可读存储介质 偏差 存储计算机程序 序列 周期 网络 发热器 监测模块 输出模块 制冷器