一种X射线三维扫查重建成像检测用对比试块的使用方法
申请号:CN202510957384
申请日期:2025-07-11
公开号:CN120778765A
公开日期:2025-10-14
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种X射线三维扫查重建成像检测用对比试块的使用方法,涉及X射线成像检测领域,包括以下步骤:在X射线三维扫查成像设备的锥束扫描模式下,采集孔类缺陷对比试块和裂纹类缺陷的多角度投影图像;结合三维重建算法生成试块的三维体素模型;计算孔类试块的孔径参数和裂纹类试块的裂纹宽度参数;计算孔径参数和裂纹宽度参数与试块标定值的偏差值,当偏差值满足预设规则时,判定成像检测系统性能合格,并将重建图像作为缺陷定量测量的校准基准。该方法通过对比试块的扫描重建与参数偏差判定,实现了X射线三维成像系统的定量性能评价、缺陷测量校准基准的建立及系统稳定性的便携化监测。
技术关键词
裂纹类缺陷
三维体素模型
三维重建算法
成像检测系统
X射线三维成像系统
塑料紧固套
参数
偏差
校准
成像设备
基准
多角度
射线源
平板探测器
X射线成像
图像
边缘轮廓
校正