一种显示工艺参数校准控制系统及方法

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一种显示工艺参数校准控制系统及方法
申请号:CN202510969843
申请日期:2025-07-15
公开号:CN120510782A
公开日期:2025-08-19
类型:发明专利
摘要
本发明涉及显示屏制造技术领域,具体公开了一种显示工艺参数校准控制系统及方法,包括:状态监测模块,用于获取显示屏的生产工艺参数,根据显示屏的生产工艺参数确定当前生产工艺参数的状态等级;异常监测模块,用于根据状态等级绘制状态等级变化曲线,根据状态等级变化曲线计算异常参数;参数校准模块,用于当异常参数大于预设容许异常阈值时,根据当前生产工艺参数绘制拓扑图,根据拓扑图确定生产工艺参数校准策略;校准调整模块,用于计算校准后的异常参数,根据校准后的异常参数对校准策略进行修正。本发明能够及时监测显示屏制造过程中工艺参数的异常情况,并针对异常情况对工艺参数进行及时校准,保证了显示屏的生产质量。
技术关键词
参数校准 校准策略 绘制拓扑图 控制系统 状态监测模块 曲线 显示屏 关联规则算法 置信度阈值 训练样本集 计算方法 数据 序列 聚类