带测试电路的异步复位状态可控的触发器电路结构

本发明涉及芯片技术领域，尤其涉及一种带测试电路的异步复位状态可控的触发器电路结构，包括第一复位控制电路、第二复位控制电路、M组异步复位状态可控的触发器电路{A1,A2,...,Am,...,AM},Am为第m个异步复位状态可控的触发器电路；第一复位控制电路用于在测试模式下为每一Am提供第一测试复位信号，在功能模式下为每一Am提供第一功能复位信号；所述第二复位控制电路用于在测试模式下为每一Am提供第二测试复位信号，在功能模式下为每一Am提供第二功能复位信号。本发明能够根据应用需求控制触发器的异步复位状态，且能实现对异步复位状态可控的触发器电路结构的测试。