芯片验证方法、测试设备及芯片验证系统
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芯片验证方法、测试设备及芯片验证系统
申请号:
CN202510983745
申请日期:
2025-07-17
公开号:
CN120493825B
公开日期:
2025-09-30
类型:
发明专利
摘要
本申请涉及芯片验证技术领域,公开了一种芯片验证方法、测试设备及芯片验证系统,该方法通过构建模板文件,以基于模板文件生成验证环境和测试用例,获取配置文件,以通过配置文件中的参数更新验证环境和测试用例中的参数,得到更新后验证环境和更新后的测试用例,基于更新后的验证环境、更新后的测试用例,对芯片进行回归测试,得到测试结果,能够基于模板文件快速生成验证环境,以及快速替换参数,以提高芯片测试的效率。
技术关键词
芯片验证系统
芯片验证方法
参数
存储器
测试设备
读数据
监视器
芯片验证技术
低功耗功能
生成测试用例
模块
模板
驱动器
校验功能
测试接口
处理器通信
存储体