芯片验证方法、测试设备及芯片验证系统

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芯片验证方法、测试设备及芯片验证系统
申请号:CN202510983745
申请日期:2025-07-17
公开号:CN120493825B
公开日期:2025-09-30
类型:发明专利
摘要
本申请涉及芯片验证技术领域,公开了一种芯片验证方法、测试设备及芯片验证系统,该方法通过构建模板文件,以基于模板文件生成验证环境和测试用例,获取配置文件,以通过配置文件中的参数更新验证环境和测试用例中的参数,得到更新后验证环境和更新后的测试用例,基于更新后的验证环境、更新后的测试用例,对芯片进行回归测试,得到测试结果,能够基于模板文件快速生成验证环境,以及快速替换参数,以提高芯片测试的效率。
技术关键词
芯片验证系统 芯片验证方法 参数 存储器 测试设备 读数据 监视器 芯片验证技术 低功耗功能 生成测试用例 模块 模板 驱动器 校验功能 测试接口 处理器通信 存储体