摘要
本发明公开了基于采样‑成像双阶压缩感知的激光超声缺陷成像方法，涉及激光超声检测、材料缺陷检测技术领域，包括通过随机稀疏采样策略对待测样品进行稀疏扫描；根据压缩感知原理，重构高采样率下全矩阵扫描的全局超声强度分布，通过极值检测实现全局稀疏定位；然后，在全局稀疏定位的基础上，采用高空间分辨率进行局部精细扫描；利用全局稀疏定位和局部精细扫描数据，通过合成孔径聚焦技术，生成低空间分辨率的稀疏成像结果，并再次利用压缩感知原理进行高分辨率压缩感知重构成像。因此，采用基于采样‑成像双阶压缩感知的激光超声缺陷成像方法，能够实现微小缺陷的高效成像，提高成像精度的同时减少扫描点。
