一种基于半监督学习和变化检测的缺陷识别方法及系统

本发明提供一种基于半监督学习和变化检测的缺陷识别方法及系统，涉及缺陷检测领域，所述方法流程为：获取相同拍摄条件下不同时间的单时相图像，并且对单时相图像进行预处理，以构建样本数据集；构建缺陷识别模型，并且基于样本数据集对缺陷识别模型进行半监督学习和变化检测，以得到最终的缺陷识别模型；其中，所述缺陷识别模型包括无监督模型和有监督模型；采用最终的缺陷识别模型对单时相图像进行缺陷识别，以得到缺陷识别结果。本发明采用半监督学习和变化检测的方式对缺陷进行检测，通过收集硬件缺陷中部分样本，采用变化检测的方式进行缺陷检出，从而减少人力，提升缺陷识别检出的准确率。