射频噪声系数测试系统及测试方法、机箱

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射频噪声系数测试系统及测试方法、机箱
申请号:CN202511018116
申请日期:2025-07-23
公开号:CN120761722A
公开日期:2025-10-10
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种射频噪声系数测试系统及测试方法、机箱,其中,测试系统通过噪声源、第一切换开关、调谐器、探针台、第二切换开关和测试机搭建测试主链路,并通过两个切换开关进行S参数测试和噪声参数测试的切换;另外,测试系统中,时钟源用于提供基准时钟,梳状谱发生器用于在基准时钟的驱动下输出梳状谱信号,定向耦合器用于将梳状谱信号的一部分作为第一参考信号直通输出,另一部分作为第二参考信号耦合输出;测试机基于第一参考信号和第一待测信号对待测器件进行S参数测试,基于第二参考信号和第二待测信号实时校准接收机本振并对待测器件进行噪声参数测试。通过本发明解决了传统噪声参数测试方案存在时漂和温漂的问题。
技术关键词
噪声系数测试方法 噪声参数 梳状谱发生器 切换开关 接收机 时钟 射频 测试机 待测器件 温度传感器阵列 信号检测器 预测网络模型 基准 校准 调谐器 低噪声放大器 铷原子钟 定向耦合器