一种光子晶体荧光增强的打印合成DNA芯片清洗效果验证方法
申请号:CN202511028878
申请日期:2025-07-25
公开号:CN120522149B
公开日期:2025-10-17
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种光子晶体荧光增强的打印合成DNA芯片的清洗效果验证方法,包括:S1,制备光子晶体微芯片,形成疏水基底和亲水检测区域;S2,搭建芯片测试平台,收集特定时间的反应清洗液体待测样品,将待测样品滴加于光子晶体微芯片表面;S3,加热光子晶体微芯片,待样品溶液干燥后待检测物富集于亲水检测区域;S4,通过荧光光谱法对待检测物所发出的荧光光谱信号进行检测,以实现对待检测物的检测;S5,利用荧光强度变化判断芯片的清洗效果。本发明的验证方法不仅能够利用荧光强度变化判断芯片清洗效果,还适用于极低浓度条件下的痕量检测,实现比普通基底如玻璃更高的灵敏度,有利于降低检测限,实现低浓度下更精确的分析。
技术关键词
光子晶体
微芯片
验证方法
芯片测试平台
DNA芯片
疏水表面
浓度变化曲线
荧光染料
荧光光谱法
载玻片
二氧化钛微球
基底
浸润性差异
氧化锌微球
溶液
核壳结构
混合液
二氧化硅微球
液体