一种磁环表面粗糙度检测方法、系统、介质和设备

本申请提供一种磁环表面粗糙度检测方法、系统、介质和设备，该方法包括：利用垂直于待检测磁环轴向方向、待检测磁环正上方的黑白相机拍摄磁环表面图像；将磁环表面图像划分为若干图像单元，根据设定面积特征区域连接各图像单元；对图像单元进行形态学腐蚀操作，得到骨架图像；识别骨架图像中包含的连通分支，并根据连通分支的面积确定表面异常类型，并生成包含表面异常类型的磁环检测数据。本申请不仅能够检测到磁环表面的异常，还能进一步确定异常类型，为后续的质量控制和数据分析提供了丰富的信息，有助于更好地管理和优化生产过程。