物理层芯片链路质量检测方法、装置和电子设备

本申请公开了一种物理层芯片链路质量检测方法、装置和电子设备，属于计算机技术领域。方法包括：获取目标物理层芯片的物理编码子层解扰状态、实时信噪比和物理层芯片链路状态；按照设定的单一检测条件对所述物理编码子层解扰状态、所述实时信噪比和所述物理层芯片链路状态进行检测配置，获取针对所述实时信噪比的第一配置条件、针对所述物理编码子层解扰状态的第二配置条件和针对所述物理层芯片链路状态的第三配置条件；基于所述第一配置条件、所述第二配置条件和所述第三配置条件，确定目标物理层芯片的链路是否异常；在所述目标物理层芯片的链路异常的情况下，将目标配置条件对应的异常确定为所述目标物理层芯片的链路异常原因。