一种基于电极特征的晶体角度识别方法

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一种基于电极特征的晶体角度识别方法
申请号:CN202511038744
申请日期:2025-07-28
公开号:CN120543891B
公开日期:2025-09-23
类型:发明专利
摘要
本发明涉及晶体角度识别技术领域,尤其涉及一种基于电极特征的晶体角度识别方法,包括如下步骤:生成多模态特征模板,将原始晶体图像中晶体目标与多模态特征模板进行匹配,输出匹配结果;建立偏移基准;基于偏移基准,对优化调整后的Blob分析的感兴趣区域的像素点位置进行动态修正,对修正后的Blob分析的感兴趣区域内的原始晶体图像进行首次Blob分析,获取晶体电极的二值化图像;对晶体电极的二值化图像进行自适应多尺度形态学增强与特征强化,得到增强后的晶体电极图像;对增强后的晶体电极图像进行二次Blob分析,提取角度特征,完成基于电极特征的晶体角度的识别。本发明提供的方法能够对晶体角度进行准确快速地识别。
技术关键词
角度识别方法 晶体 感兴趣 电极 多模态特征 像素点 多尺度形态学 掩膜 模板 坐标 图像配准算法 主成分分析方法 SVM分类器 累积分布函数 直方图均衡化 金字塔结构