基于X射线多功效融合的GIS微小缺陷检测方法及系统

本发明公开了基于X射线多功效融合的GIS微小缺陷检测方法及系统，该方法包括如下步骤：首先利用X射线光电离功效激发GIS内潜伏性缺陷产生局部放电，用特高频法和超声波法检测放电信号，经降噪模型处理后，分别得到特高频放电相位谱图和超声波放电相位谱图。接着将成像板置于GIS背面，利用X射线进行数字DR成像，获取X光图像。对特高频放电相位谱图和超声波放电相位谱图去噪后进行融合，再结合X光图像建立GIS健康状态诊断模型，依据诊断模型的评价分数对GIS进行可靠缺陷检测。本发明将X射线多种功效相融合，可发现更微小的GIS潜伏性缺陷，显著提升了检测灵敏度，解决了传统方法难以识别微小潜伏性缺陷的难题。