耗材更新方法、装置、介质及电子设备

本公开提供耗材更新方法、装置、介质及电子设备。所述更新方法包括：获取测试任务需求；基于所述测试任务需求匹配相应耗材性能等级的测试耗材，所述耗材性能等级包括校准误差等级、时漂速率等级和阻抗区域偏移等级；基于所述测试耗材进行射频在片测试；在射频在片测试的过程中，动态更新所述测试耗材的耗材性能等级。通过测试耗材与测试任务需求的匹配，并且在测试过程中实现对耗材性能等级的动态更新，能够降低高值耗材的损耗率。