摘要
本发明涉及管理技术领域,是一种基于验证结果的电子护照验证管理方法,包括:实时采集电子护照验证过程中的电子护照验证结果日志,导入动态硬件损耗模型,输出实时硬件损耗值;获取普通验证阶段芯片的电气特性参数,构建基于验证操作复杂度的动态电荷泄漏系数;计算基于验证场景强度的电子护照芯片的劣化加速因子;结合电压‑温度耦合效应生成电子护照芯片的综合健康指数,并识别护照芯片临界失效状态,输出调整后的电子护照保护管理策略。本发明解决了现有技术中,大部分电子护照在未达理论寿命周期时即会突发性失效或批量报废的问题。