IGBT模块的组装测试方法、设备及存储介质

本发明公开了一种IGBT模块的组装测试方法、设备及存储介质，涉及IGBT测试领域。该方法的步骤包括：将IGBT芯片封装为IGBT模块；为IGBT模块配置驱动器件、并配置驱动器件的参数；初步测试：在初步给定的电流和电压的条件下，确定IGBT模块工作的波形和IGBT特性数据；初步测试通过后，进入校核测试；校核测试：将初步给定的最大电流的1.2~2倍作为校核给定电流，将初步给定的最大电压的1.2~2倍作为校核给定电压；在校核给定电流和校核给定电压下，确定IGBT模块工作的波形和IGBT特性数据。经过本申请测试通过的IGBT模块不仅适用于高压高电流环境，而且提高了能量转化率。