待测天线定位方法和天线测试系统
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待测天线定位方法和天线测试系统
申请号:
CN202511068994
申请日期:
2025-07-31
公开号:
CN120820910A
公开日期:
2025-10-21
类型:
发明专利
摘要
本发明提供了一种待测天线定位方法和天线测试系统,该方法中,会通过到达时间差法得到的各测试探头之间的校准补偿值对各测试探头在不同测试点与待测天线之间的测试伪距进行校准补偿,从而得到各测试探头在不同测试点与待测天线之间的校准补偿后的测试伪距,进而再根据校准补偿后的测试伪距进行待测天线的位置的计算,最终计算得到的待测天线的位置信息的准确性好,也就是可对待测天线进行准确定位。
技术关键词
待测天线
天线测试系统
测试点
探头
校准
测试仪表
时间差法
伪距差值
拟合算法
天线定位方法
电波暗室
时延
补偿值
转台
坐标
梯度下降法
信号分析