基于标注偏差免疫损失的数控机床进给系统故障诊断方法

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基于标注偏差免疫损失的数控机床进给系统故障诊断方法
申请号:CN202511072032
申请日期:2025-07-31
公开号:CN120951044A
公开日期:2025-11-14
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于标注偏差免疫损失的数控机床进给系统故障诊断方法,涉及故障诊断领域,包括如下步骤:采集数控机床进给系统的运行数据,对数据进行处理形成数据集;对数据集中的数据进行切片,输入到模态通道注意力模块做特征融合和权重分配;构建嵌入式故障诊断框架,使用净噪交互样本处理策略,获取用于训练嵌入式故障诊断框架的数据;使用标注偏差免疫损失代替标准交叉熵损失,对嵌入式故障诊断框架进行训练;将新样本输入到嵌入式故障诊断框架中训练好的故障诊断模型,对数控机床进给系统进行故障诊断。本发明通过标注偏差免疫损失,能够根据样本实际标签的独热编码,自适应调整训练过程样本对梯度计算的影响,提高故障诊断的准确率。
技术关键词
嵌入式故障诊断 数控机床进给系统 故障诊断模型 采集数控机床 样本 故障诊断方法 偏差 注意力 模式 框架 通道 矩阵 标签 模型训练模块 数据采集模块 切片 跟踪误差信号 因子