前端低功耗验证环境生成方法、电子设备和介质

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前端低功耗验证环境生成方法、电子设备和介质
申请号:CN202511073438
申请日期:2025-08-01
公开号:CN120562352B
公开日期:2025-10-24
类型:发明专利
摘要
本发明涉及芯片验证技术领域,尤其涉及一种前端低功耗验证环境生成方法、电子设备和介质,方法包括步骤S1、获取芯片的寄存器传输级代码信息An和统一功耗格式信息Bn;步骤S2、获取目标配置文件;步骤S3、解析所述目标配置文件,若Cn设置为第一标识,则将A1n和B1n加入目标编译文件列表,若Cn设置为第二标识,则将A2n和B2n加入目标编译文件列表;步骤S4、从每一标准单元库信息文件中筛选至少一个工艺角对应的标准单元库信息文件加入目标编译文件列表;步骤S5、基于所述目标编译文件列表编译生成前端低功耗验证环境。本发明提高了前端低功耗验证环境的生成效率和准确性。
技术关键词
标准单元库 低功耗 列表 标识 计算机可执行指令 生成方法 芯片验证技术 模块 电子设备 电压 处理器通信 典型 可读存储介质 格式 存储器