一种自测试控制方法、装置、设备及介质

本申请公开了一种自测试控制方法、装置、设备及介质，应用于闪存控制器领域。其中，自测试控制方法包括：将待测数据写入对应的存储器设备内，以构成存储数据；其中待测数据为预设算法生成的数据或者待存储的目标数据；读取存储器设备内的存储数据；判断存储数据与待测数据是否完全相同；若存储数据与待测数据完全相同，则自测试成功；若存储数据与待测数据不同，则自测试失败。由此可见，本申请通过自测试控制方法可以对闪存控制器进行自检，不需要外接设备，整体操作简单，降低了全生命周期测试成本。