基于FPGA的以太网物理层高效测试与精细化故障诊断方法

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基于FPGA的以太网物理层高效测试与精细化故障诊断方法
申请号:CN202511075093
申请日期:2025-08-01
公开号:CN120785805A
公开日期:2025-10-14
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种基于FPGA的以太网物理层高效测试与精细化故障诊断方法,本方案绕过了耗时的网络层协议,通过在以太网物理层直接进行环回测试和性能验证,极大地缩短了单个端口的测试时间,从根本上解决了传统串行测试流程的效率瓶颈;另外,通过根据以太网口芯片的寄存器状态生成故障诊断结果,不仅能判断端口是否正常工作,更能深入到以太网物理层进行精细化的故障诊断;另外,通过基于FPGA构建网口测试装置,将数据生成、收发控制、结果比对及故障诊断逻辑集成于一体,实现了全自动化的测试流程,减少了人工干预,进一步提升了测试的一致性和可靠性;并且,通过对物理链路、用户数据报协议发包性能进行验证及故障诊断等多种测试模式,确保了测试的覆盖度。
技术关键词
网口测试装置 先进先出数据 现场可编程门阵列 数据报协议 故障诊断方法 故障诊断装置 错误计数器 芯片 指令 链路 物理 网络层协议 电子设备 测试模块 程序 处理器 可读存储介质 模式