一种芯片检测系统

本发明实施例公开了一种芯片检测系统，用于对待测芯片(2)进行光学检测，所述待测芯片(2)包括相邻的第一侧面(21)和第二侧面(22)，所述芯片检测系统(1)包括：单个检测镜头(13)，用于同时接收所述第一侧面(21)和第二侧面(22)的光线，以对所述第一侧面(21)和第二侧面(22)进行同步检测；第一光路系统(11)，用于将所述待测芯片(2)的第一侧面(21)的光线传导至所述检测镜头(13)的第一区域(131)；第二光路系统(12)，用于将所述待测芯片(2)的第二侧面(22)的光线传导至所述检测镜头(13)的第二区域(132)。本实施例的芯片检测系统结构简单。