密封电子设备多余物属性识别模型的可靠性评估分析方法
申请号:CN202511085833
申请日期:2025-08-04
公开号:CN120950917A
公开日期:2025-11-14
类型:发明专利
摘要
密封电子设备多余物属性识别模型的可靠性评估分析方法,属于密封电子设备多余物识别技术领域。为了解决目前并没有一种针对密封电子设备多余物属性识别模型的可靠性评估分析方法的问题。本发明将密封电子设备多余物属性识别模型在训练过程取得的最佳全局分类性能p作为初始分类性能,基于评估集得到密封电子设备多余物属性识别模型的全局分类性能退化下限和每个类别对应的局部分类性能退化下限,进而确定性能退化阈值q;根据p‑q评估模型的可靠性;本发明还将构建多余物属性识别模型的多个环节作为多个模块,通过模块失效的方式来分析各个模块对模型分类性能的影响,进而确定关键功能模块。
技术关键词
属性识别模型
密封电子设备
评估分析方法
功能模块
算法模块
分类器
特征选择
脉冲
参数
模式
位置识别
信号
基础