一种X射线机投影参数校准方法

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一种X射线机投影参数校准方法
申请号:CN202511102040
申请日期:2025-08-07
公开号:CN120976636A
公开日期:2025-11-18
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种X射线机投影参数校准方法,涉及医疗影像与诊断设备技术领域,本发明双通道特征提取模块在空间维度动态屏蔽高噪区域响应,同时利用通道增益机制保留关键解剖结构特征,有效抑制量子噪声对边缘定位的干扰;生成对抗框架将参数回归转化为重建质量驱动的优化任务,判别器基于预训练深度特征的结构相似性约束,强制生成器输出符合物理投影规律的偏移量,破解了低信噪比数据下优化算法陷入局部极值的瓶颈;损失函数中的三重约束项通过权重自适应机制平衡参数精度与图像真实性,在训练早期快速收敛几何参数,中后期强化纹理一致性,减少因剂量不足引发的伪影畸变。
技术关键词
参数校准方法 X射线机 生成器网络 融合特征 噪声估计器 特征提取模块 X射线投影图像 卷积神经网络提取 信噪比数据 掩膜 全局平均池化 矩阵 生成对抗网络 噪声模式 索引 特征提取器 通道