单晶硅制备方法和硅片

AITNT-国内领先的一站式人工智能新闻资讯网站
# 热门搜索 #
单晶硅制备方法和硅片
申请号:CN202511106577
申请日期:2025-08-07
公开号:CN120967492A
公开日期:2025-11-18
类型:发明专利
摘要
本申请实施例涉及半导体材料制备技术领域,提供一种单晶硅制备方法和硅片,包括:在晶体位于等径阶段的第一时段时,根据晶体的结晶潜能降低加热器的功率,得到第一功率;在晶体位于等径阶段的第二时段时,控制加热器按照第一功率运行;在晶体位于等径阶段的第三时段时,根据晶体的真实长度和真实拉速,确定加热器的功率补偿值,并采用功率补偿值对加热器的功率进行补偿得到第二功率,功率补偿值包括第一补偿值和第二补偿值,第一补偿值为采用比例积分微分算法计算得到的补偿值,第二补偿值为与真实拉速相关的动态变化的补偿值,第二功率大于第一功率。该方法根据晶体的真实拉速和真实长度对加热器功率进行补偿,降低了晶体的断线率。
技术关键词
补偿值 功率 晶体 加热器 单晶硅 阶段 断线 结晶 硅片 曲线 关系 算法 半导体材料 速度 理论