一种熔断器老化特性预测方法及系统

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一种熔断器老化特性预测方法及系统
申请号:CN202511111726
申请日期:2025-08-08
公开号:CN120949130A
公开日期:2025-11-14
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种熔断器老化特性预测方法及系统,其中方法包括获取熔断器质量要求,根据熔断器质量要求建立第一测试项目集和第二测试项目集;确定待检测熔断器总体,根据第一测试项目集获取全部熔断器的常规检测数据;基于全部熔断器的常规检测数据,确定破坏性测试样本组;根据第二测试项目集获取破坏性测试结果;基于破坏性测试结果和常规检测数据,确定待检测熔断器总体中各熔断器的老化预测结果。本发明解决了现有技术中对大批量熔断器进行老化检测准确率和效率低的技术问题,达到了通过有限的破坏性测试样本与非破坏性常规检测数据相结合,实现对整批熔断器老化特性的准确预测,降低检测成本并提高预测效率的技术效果。
技术关键词
熔断器 老化特征 特性预测方法 加速老化测试 数据 样本 机器学习算法 参数 项目 预测系统 测试模块 关系 变量