键盘按键表面缺陷检测方法、装置、设备及介质

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键盘按键表面缺陷检测方法、装置、设备及介质
申请号:CN202511113893
申请日期:2025-08-11
公开号:CN120997583A
公开日期:2025-11-21
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种键盘按键表面缺陷检测方法、装置、设备及介质,所述方法通过获取键盘按键表面缺陷的样本图片和检测图片;对所述样本图片按缺陷类型进行标注,相同缺陷类型的图片标注相同的缺陷名;利用卷积神经网络对完成标注的样本图片进行训练,获取最佳键盘按键表面检测模型;通过键盘按键表面检测模型对键盘按键表面缺陷进行检测。本申请能够同时处理多个键盘按键的检测,检测准确率高,定位精度更加准确,训练好的模型使用更加便捷。
技术关键词
键盘按键 表面缺陷检测方法 图片 轮廓图像 键帽 样本 表面缺陷检测装置 文件夹 坐标转换矩阵 算法 矩形 像素 轮廓提取 空间结构 图标