基于大数据智能算法的制造产线缺陷检测方法及系统

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基于大数据智能算法的制造产线缺陷检测方法及系统
申请号:CN202511116498
申请日期:2025-08-11
公开号:CN120991953A
公开日期:2025-11-21
类型:发明专利
摘要
本发明公开了基于大数据智能算法的制造产线缺陷检测方法及系统,涉及产线缺陷检测技术领域,该方法包括:获取项目产线信息,构建检测周期链;进行产线检测阵列部署,以基于先验特征的事件触发部署第一计算节点,以基于事件黑箱的定向检测推理部署第二计算节点,以基于定向检测的因果推理部署第三计算节点,以节点的交叉阵列初始化忆阻器;建立阵列通信交互,进行分布式自驱的缺陷复合逻辑检测管理,执行事件缺陷告警。本发明解决了现有技术中制造产线缺陷检测无法实现分布式自驱检测与实时告警,导致缺陷检测效率低和准确性不足的技术问题,达到了实现对制造产线缺陷的分布式自驱检测与实时告警,提升了缺陷检测的效率与准确性的技术效果。
技术关键词
大数据智能算法 缺陷检测方法 产线 忆阻器 节点 复合层 驱动检测设备 周期 分布式阵列 缺陷检测技术 缺陷检测系统 项目 数据存储 事件特征 逻辑 级联 编码 告警模块 进程